產(chǎn)品介紹：

用于UV和VUV光電子能譜應(yīng)用的聚焦透鏡 。 所 有 標(biāo) 準(zhǔn) 和 定 制 的 透 鏡 都 能 實 現(xiàn)< 5  μ  m  角 分 辨 光 電 子 能 譜 實  驗（ ARPES）。

特點：

• 粒徑為5亞微米的角分辨光電子能譜（ARPES）實驗的必要組件。

• 可提供標(biāo)準(zhǔn)和定制設(shè)計。

• 電 子 能 譜 實  驗（ ARPES）。

規(guī)格參數(shù)：

標(biāo)準(zhǔn)模型

	AUL-250-190	AUL-320-177
透鏡材料	Fused Silica	CaF2
透鏡鍍膜	AR	AR
波長	190-210nm	177nm
入射電子束直徑	1.7mm	1.7mm
焦距	250mm@190nm 310mm@210nm	320mm@177nm
長度	～145mm	～250mm
光通量	91%@190nm	93%@177nm
聚焦性能	＜5μm	～5μm
產(chǎn)品圖片

典型應(yīng)用：

角分辨光電子能譜（ARPES）

資料/文獻(xiàn)：

NTT-UV聚焦透鏡 datasheet 2022.4.24.pdf

公司介紹：

NTT-AT有著多年的X射線、極紫外光學(xué)配件的研發(fā)與銷售經(jīng)驗。在全球范圍內(nèi)，通過與眾多來自同步輻射科學(xué)，阿秒科學(xué)，高強度物理學(xué)等領(lǐng)域的科學(xué)研究者開展緊密合作，積累了大量獨特的設(shè)計與制造技術(shù)，其產(chǎn)品在業(yè)內(nèi)享有很高的評價。NTT-AT提供的菲涅爾波帶片有著高分辨率，高聚光效率等特點，適合被各種輻射光設(shè)施使用。另外，分辨率測試卡被當(dāng)作業(yè)界的標(biāo)準(zhǔn)。不只是學(xué)術(shù)研究，在X射線的檢查裝置開發(fā)現(xiàn)場也被廣泛使用。XUV鏡片，XUV濾波片不僅對阿秒科學(xué)有著幫助，對下一代的光刻研究也有這重要作用。NTT-AT將在XUV,EUV, X線領(lǐng)域給予客戶在研發(fā)上最大的幫助。